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TI (대표이사 켄트 전)는 높은 분해능과 낮은 잡음, 오류 검출 기능을 결합하여 디바이스 평가 및 선택 시 발생하는 일반적인 성능과 기능 저하를 방지하는 32bit 델타 시그마 아날로그-디지털 컨버터(ADC)를 출시한다고 밝혔다. 이 새로운 ADS1262 및 ADS1263은 높은 통합성을 제공하고 센서가 내장되어 있으며, 시스템 비용을 높이고 잡음 및 드리프트 성능 저하의 요인이 되는 외부 부품을 필요로 하지 않다. (보다 자세한 정보는 www.ti.com/ads1262-pr-kr 참조)

높은 분해능의 ADC를 필요로 했던 시스템 설계자들은 다수의 통합 기능은 물론 낮은 잡음 및 낮은 오프셋 드리프트와 같은 다른 기대 사양들을 포기해야 했다. ADS1262와 ADS1263은 이러한 기대 사양들을 포기하지 않고도 32bit 분해능과 함께 높은 통합과 오류 검출 기능, 빠른 데이터 속도 및 넓은 온도 범위를 제공하여, 프로그래머블 로직 컨트롤러(PLC), 산업용 자동화 장비 및 센서 측정 애플리케이션의 성능을 극대화할 수 있게 도와준다.

ADS1262 및 ADS1263의 주요 기능 및 장점
- 정확한 소신호 측정: 32bit의 높은 분해능과 2.5SPS에서 7nVRMS의 낮은 잡음으로 가장 작은 신호 측정이 가능하며, 이는 일반적인 풀스케일 신호가 10mV 이하인 브리지 애플리케이션에 반드시 필요하다. 경쟁 솔루션보다 80% 더 낮은 오프셋 오류 드리프트는 전체 온도 범위에서 측정 안정성을 보장한다.
- 적은 부품 수로 시스템 비용과 보드 공간 절감, 설계 시간 단축: ADS1262는 프로그래머블 게인 증폭기(PGA), 2.5V 레퍼런스, 오실레이터, 레벨 시프터, 온도 센서, IDAC(dual-excitation current source) 및 8개의 범용 입/출력(GPIO) 핀을 통합하였다. ADS1263은 보조 24bit 델타 시그마 ADC를 추가해 메인 채널에 대한 병렬 변환, 센서 온도 보상 또는 센서 진단을 필요로 하는 시스템에 적합하다.

- 모니터링 및 진단 기능 통합: 내부 시그널 체인 모니터링, 데이터 오류 검출, 센서 번아웃 검출 및 디지털-아날로그 컨버터(DAC) 테스트 기능이 통합되어 신뢰도 높은 시스템에 필요한 내부 및 외부 오류 검출과 진단 기능을 제공한다. (보다 자세한 내용은 TI의 새로운 백서 ‘ADS1262 및 ADS1263에 통합된 진단 기능으로 시스템 신뢰성 향상시키는 방법’ 참조)
- 빠른 데이터 속도: 38kSPS의 최대 출력 데이터 속도로 높은 데이터 쓰루풋 산업용 애플리케이션에 사용

 가능하다.
- 혹독한 산업 환경 지원: 경쟁 제품보다 20C 더 넓은 -40°C ~ 125°C의 동작 온도 범위를 제공한다.

설계 시간을 단축시키는 툴 및 지원
TI는 AC 브리지 여자(excitation)를 이용한 높은 분해능, 낮은 드리프트의 정밀 중량계 측정을 위한 TI 디자인스 레퍼런스 디자인을 포함하여, 제품 출시 기간을 단축시켜주는 ADS1262 및 ADS1263의 다양한 지원 툴을 제공한다. ADS1262 및 ADS1263은 샘플, IBIS 모델, 디바이스 구성을 도와주는 엑셀 계산기 툴, PDK(performance development kit)를 비롯해 시스템 설계자가 이용할 수 있는 완벽한 지원 세트를 제공한다. ADS1262EVM-PDK 및 ADS1263EVM-PDK는 TI store 및 TI 공인 대리점에서 199달러에 구입할 수 있다. TI E2E™ 커뮤니티의 정밀 데이터 컨버터 포럼에서ADS1262 및 ADS1263에 대한 기술 지원을 받을 수 있다. TI E2E™ 커뮤니티는 솔루션을 검색하고, 동료 엔지니어 및 TI 전문가들로부터 도움말을 얻고, 지식 공유 및 문제를 해결할 수 있는 엔지니어 포럼이다. ADS1262 및 ADS1263과 같은 데이터 컨버터를 사용하여 설계하고자 하는 엔지니어는 TI의 새로운 데이터 컨버터 학습 센터를 방문하여 설계를 위한 델타 시그마 ADC 기본 사항, ADC 잡음 분석 및 필터링, ADC 구동과 같은 항목별로 정리된 설계 방법 리소스를 살펴볼 수 있다.